服务内容

工程中心利用相关仪器、设备开展多方面的科学研究，为广大企事业单位提供相关产品在电磁辐射控制材料方面的技术攻关、工程化研究开发。同时为广大企业单位、科研院所提供检测评价、试验分析和信息咨询等服务。

检测中心坚持“科学、公正、服务、价值”的服务理念，分析检测校内外送检样品，不仅为校内教学科研、学科建设服务，也为西部的地区乃至全国的经济发展做贡献。主要的业务范围包括材料微区形貌和成份分析、晶体结构分析、射频及微波参数测试、材料导热分析测试、材料热膨胀率测试和微观应变分析、红外和紫外光谱测试等。

形貌分析

场发射扫描电子显微镜
常规粉末观察	导电性良好的非磁性样品
磁性粉末观察
薄膜断面厚度测量	薄膜导电性良好，厚度大于100 nm
薄膜断面厚度测量	薄膜导电性良好，厚度小于100 nm
块材表面形貌观察	导电性良好的非磁性样品
表面微区尺寸测试	样品导电性良好
表面微区尺寸测试	样品导电性良好
超景深三维显微系统
常规光学显微镜观察	放大倍数20X-1000X
三维图像合成	放大倍数20X-1000X

成分结构测试

X射线衍射仪
常规粉末衍射	高温粉末衍射

能谱仪
	能谱点分析
	能谱线扫描
	能谱面扫描
穆斯堡尔谱仪
	常规穆斯鲍尔谱测试
	低温穆斯鲍尔谱测试
	高温穆斯鲍尔谱测试

热分析

差热扫描量热仪
DSC常规扫描	起始点：40℃，测试时长依据于仪器的运行时间
热膨胀仪
热膨胀系数常规扫描	起始点：40℃，测试时长依据于仪器的运行时间
闪光法导热分析仪
单点导热系数测试	起始点：40℃

光谱分析

傅立叶红外光谱仪
FTIR透射扫描	FTIR反射扫描
紫外可见光红外分光光度计
透射扫描	反射扫描

微波性能测试

同轴线法电磁参数测试系统（0.5-18 GHz）
	同轴环样品测试	客户制备测试样品
	粉末样品测试	代制备测试样品
微带线法薄膜电磁参数测试系统（0.5-18 GHz）
	薄膜磁导率测试	样品尺寸有限制，请垂询
传输线法测量高频电磁参数系统（26.5 GHz-40 GHz）
	粉末样品高频测试	客户制备测试样品，请垂询
	粉末样品高频测试	代制备测试样品
微波反射率测试系统（0.5-18 GHz）
	平板反射率测试	平板尺寸：200 mm*200 mm
阻抗分析仪（1 M-1 GHz）
	磁导率测试	用户制备测试样品
	介电常数测试	用户制备测试样品
微波反射率透射率测试系统（8-12 GHz）
	平板反射率测试	用户制备测试样品
	平板透射率测试	用户制备测试样品

静磁性能测试

综合物性测量系统
常温磁滞回线测试	样品尺寸有限制，请垂询
低温VSM测试	样品尺寸有限制，请垂询

粒度电位测试

激光粒度电位仪
纳米粉末粒度测试	粒度范围：3nm-3μm
纳米粉末电位测试	粒度范围：3nm-3μm
自动滴定电位测试	粒度范围：3nm-3μm；pH范围：1-14
高浓度悬浮液测试

注： 各测试项目具体收费标准及详细样品准备说明，已张贴在清水河五号楼325房间内，也可来电咨询。